F200冷场发射透描电子显微镜

仪器名称：场发射透射电子显微镜

仪器型号: F200

制造厂家: 日本电子 （JEOL）

放置地点：云南大学呈贡校区工程中心2栋103

管理人：卞龙春

联系方式：13629685463

主要技术指标

（1） 分辨率：0.23 nm (点分辨率);  0.10 nm (线分辨率); 0.16 nm (STEM分辨率) 。

（2） 配备STEM探头、二次电子探头，可同时采集SEI、BF及HAADF图像。

（3） 配备电制冷大面积双探头能谱仪（≥200 mm²），结合STEM可进行点线面扫描分析。

主要功能：

JEM-F200场发射透射电镜安装了高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪，不仅可观察超高分辨率图像的观察，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。同时，该设备采用全新的四级聚光镜照射光线系统，分别控制亮度和汇聚角，能最大程度发挥出STEM功能的优势，配备大面积双探头超级能谱仪，能够实现快速高精度的EDS Mapping分析。应用于材料科学、生命科学、化学、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、微区化学成分分析以及复合材料界面特性的研究。