发布时间：2020-08-25 浏览次数：10
仪器名称（中文）：高性能微区X射线荧光光谱仪
仪器名称（英文）：High performance micro area X ray fluorescence spectrometer
型号：Bruker/M4 Tornado
厂家：Bruker
购置年份：2018-06-21
性能指标：
1. 显微X射线荧光分析仪
能满足元素Na11-U92的成分分析；
高分辨元素分布成像，一次性最大成像面积150*150mm；
2. X射线源：
Rh靶显微X射线光管；
<20μm的光斑大小（Mo-K）；
X射线管参数30-50kV，600μA；
X射线斜入射激发，使得低倍和高倍的观测CCD同轴，无需切换CCD和X射线光源，保证所看即所测；
3. 探测器：
30mm2硅漂移探测器（SDD），能量分辨率< 145eV@300，000kcps；
单点积分时间≤1ms；
4. 样品仓：
仓体内部尺寸≥500mm*300mm*200mm；
可在空气和真空下两种环境下测量；采用无油真空泵；
5. 样品台：
全自动XYZ平台，平台移动速度≥100mm/sec；
XYZ平台尺寸≥200*150mm；
在测试过程中，用户能自定义线性步长、测试像素数量等；
6. 样品观察：
配置10倍和100倍的两种放大镜头；
自动聚焦样品，能提供多点XY测量方案，保证观察与测试结果的一致性；
7. 软件：
定量、半定量和定性的分析，并且可以建立自己的矿物曲线库
支持单点，多点，线和用户自定义（圆形，矩形，多边形）扫描方式来分析组分的不同；
在扫描区域能进行相态和化学计量分析，以用来决定不同相态的分布和比例；
用户能自定义报告的模板；
配有自动矿物分析软件；
可视化谱峰剥离，能快速识别元素，分辨谱线重叠的元素；
8. 电脑：
和仪器配置的电脑必须好于以下配置，以满足快速收集和处理大量数据的能力：
处理器： Xeon 4 Core: 3 GHz Turbo
存储器总线：1.6GHz
存储器内存：8GB
硬盘：1TB
接口：USB（4个）
操作系统：Windows 7（64-bit）
显示器：24’’ TFT LCD
附件：键盘，鼠标
原理及应用：高性能微区X射线荧光光谱仪
高性能微区X射线荧光光谱仪，是利用X射线光管发出的初级线束，将激发光聚焦到样品非常小的区域，激发各化学元素发出二次谱（X-荧光），借住高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将荧光光子按能量分离从而定性，根据各元素能量的高低来测定各元素的含量，同时利用样品台快速移动对样品进行快速面扫描和元素成像分析。