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超高分辨激光共聚焦显微镜高阶应用培训通知

来源: 发布时间:2024-03-19 点击量:

大仪实验中心TCS SP8 STED 3X超高分辨激光共聚焦显微镜配置了405nm激光器、多线氩离子激光器(458/476/488/496/514nm)、白激光(470-670nm任意可调),可实现紫外、可见到近红外波长范围内的常规共聚焦显微成像,同时搭配有两台PMT检测器和两台超灵敏HyD检测器,可轻松去除反射光和杂散光干扰,也可以搭配单分子探测(SMD)系统实现荧光寿命成像(FLIM)和荧光相关光谱(FCS)检测。应用受激发射损耗(STED)技术,该设备能实现50 nm以下的分辨率,可进行单色、双色及三色荧光标记固定细胞或活细胞的STED超高分辨成像。

为了更好的服务于各相关科研团队,中心拟定于3月25-26日开展超高分辨激光共聚焦显微镜高阶应用培训,本次培训包括理论培训和上机培训两部分。

本次培训同时安排图像分析统计软件AIVIA使用体验,现收集典型数据处理案例,欢迎有图像分析统计需求的师生参与交流,如有需要请与中心工程师联系(郝英18092117169)。


培训时间:2024年3月25-26日

培训地点:18号楼副楼5002会议室

主讲人:郝 英   分析测试中心工程师

    王文静   徕卡应用专员

    殷艺璇   徕卡应用专员

日程安

3月25日

时间

内容

报告人

9:30-10:10

白激光共聚焦高阶应用--FLIM、FRET、FRAP及全光谱扫描成像

王文静

10:10-10:50

AIVIA人工智能助力图像数据分析

殷艺璇

10:50-11:00

休息


11:00-11:30

STED技术原理、发展及应用

王文静

11:30-12:00

分析测试中心超高分辨激光共聚焦显微镜预约使用及培训注意事项


14:30-15:30

AIVIA操作体验

分组1

14:30-15:30

白激光高阶应用培训(激发光谱扫描、FRAP、FRET等)

分组2




15:30-16:30

白激光高阶应用培训(激发光谱扫描、FRAP、FRET等)

分组1

15:30-16:30

AIVIA操作体验

分组2


3月26日

9:30-10:30

STED上机培训

分组1

9:30-10:30

AIVIA现场数据处理

分组2


10:30-11:30

AIVIA现场数据处理

分组1

10:30-11:30

STED上机培训

分组2

报名须知

1.为保证培训质量,共聚焦显微镜上机培训会分批按需进行,每次上机培训人数不超过5人,以先后报名顺序进行排序,参加并完成理论培训及考核的相关人员,才可进入下一阶段培训,参加完全部培训考核之后,方可申请中心成为自主操作用户,享受相应权利。

2.本次报名需二维码报名并现场签到,培训前已经提交电子版和纸质版培训报名表的同学,请按要求扫码报名后准时参加理论培训。

3.请需要参加上机培训的师生在报名时,按需勾选培训内容,以便后期合理安排培训批次。

4.本设备上机培训暂时仅针对校内师生开放,校外师生可联系设备管理员咨询相关事宜。

报名方式:

访问链接:http://iacxjtu7.mikecrm.com/wLkUEz7

或扫描二维码:

联系人:郝英18092117169 刘若媛15929995451

邮箱:haoying0716@xjtu.edu.cn


大仪实验中心

二零二四年三月十九日