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沣东科技资源共享平台专业技术服务论坛--XPS与ToF-SIMS技术分析专题会

来源: 发布时间:2020-11-12 点击量:

沣东科技资源共享平台专业技术服务论坛XPS与ToF-SIMS技术分析专题会

 

一、主旨与目的

近年来,固体表面分析已逐步发展为仪器分析的重要范畴,特别是对固体表面材料的元素和化学价态分析,目前常用的方法包括XPS(X-Ray Photoelectron Spectroscopy, X 射线光电子能谱分析)和ToF-SIMS(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectroscopy,飞行时间二次离子质谱)。XPS可对各种材料样品提供高精度的元素成分、价态、相对含量、浓度掺杂及表面、深度分布等功能分析,目前该分析方法在日常表面分析工作中的份额约50%,是一种重要的表面分析工具。ToF-SIMS是一种高灵敏的表面分析技术,可以检测元素周期表上的所有元素、同位素,且可以分析有机分子离子碎片,对有机生物样品进行准原位的分子结构解析,广泛应用于物理学、化学、材料科学、生物医学等研究领域。

根据平台科研用户需求反馈,本期沣东科技资源共享平台专业技术服务论坛活动聚焦XPS与ToF-SIMS技术的解析与应用,邀请西安交通大学的资深业内专家、高级工程师进行专题交流与探讨,答疑解惑研发人员在实际产研发测试工作中遇到的技术难题,为科技创新发展赋能助力。

二、主题

专业技术服务论坛-XPS与Tof-SIMS技术专题会

三、活动时间及地点

2020年11月18日(周三)

签到时间:下午13:40-14:00

活动时间:下午14:00-16:30

西安交通大学创新港校区18号楼辅楼5002

四、主办单位

西咸新区沣东新城新经济局(科统办)

咸阳市渭城区科学技术局

西安交通大学分析测试中心

五、承办单位

西安沣东仪享科技服务有限公司

西安联易共享信息科技有限公司(易科学)

六、协办单位

光谷创业咖啡

七、参会人员

高校师生、企业研发人员

八、邀请嘉宾

周国庆西安交通大学分析测试中心副研究员/高级工程师

刘佳梅西安交通大学分析测试中心工程师高级工程师

九、活动安排

13:40-14:00

签到

14:00-14:05

主持人开场

14:05-15:05

专家分享一“ToF-SIMS分析技术”

15:05-16:05

专家分享二“XPS技术及谱图分析”

16:05-16:25

问答环节

16:25-16:30

合影留念

十、扫码报名

联系人:田老师:17392868276 /029-84518659

李老师:15321555944

2020年11月11日

嘉宾介绍:

嘉宾一:

周国庆,男,副研究员,工学博士。长期从事无机、同位素质谱学研究,2017年进入西安交通大学分析测试中心,主要负责无机成分分析检测工作。

嘉宾二:

   

刘佳梅,女,高级工程师。主要从事X射线光电子能谱仪、热分析类设备的分析测试工作及技术研究工作。擅长表面分析技术,开发了半导体光生电荷分离与迁移原位XPS表征技术,并为实验室搭建一套多相加氢反应催化剂的准原位表征装置。承担和参与过中国科学院仪器功能开发项目、陕西省科技厅科技创新项目、国家自然科学基金项目、国家科技部“863”计划和中科院“西部之光”等项目。