【分析测试技术论坛第67期】飞行时间二次离子质谱仪应用

讲座摘要：

飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种非常灵敏的表面检测技术。它可以获得关于表面、薄膜以及样品界面的元素和分子的详细信息，并且给出完整的三维分析。这种技术的应用范围十分广泛，包括半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等。

本讲座将结合西安交大已经安装的TOF-SIMS系统，专注在表面分析中的应用。

讲座人简介：

高聚宁，1997年毕业于中国科学院北京真空物理开放实验室（现凝聚态物理中心纳米物理与器件实验室），主要研究课题为纳米物理与原子操纵。2002年开始进行TOF-SIMS在中国的推广工作。现为德国IONTOF公司中国代表处（北京艾飞拓科技有限公司）总经理。

论坛时间：2023年2月28日 星期二 15:00-18:00

参会方式：线下（18号楼副楼分测中心18-5002）

注：

西安交通大学大型仪器设备共享实验中心采购的飞行时间二次离子质谱仪已于近日完成安装调试。计划于2023年3月1日-2023年5月31日开放试运行，试运行期间半价收费，欢迎各位老师同学前来预约测试!

联系人：周老师 梁老师

联系电话：18629365572 15229259676

放置地点：创新港18号楼主楼一层真空互联实验室（18-1035~1037室）

用户QQ群：318178023（进群请备注学院和真实姓名）