武汉大学科研公共服务条件平台相位差分低损伤成像原位透射电镜（Spectra 300）已经安装完毕，即日起对校内开放试运行，欢迎校内师生预约测试！
一、仪器参数配置
型号：Spectra 300
灯丝类型：超稳定高亮肖特基场发射电子枪配单色器（X-FEG Mono）
加速电压：30–300 kV
TEM信息分辨率：60pm@300kV
STEM分辨率：50pm@300kV
相机：Ceta-S CMOS相机、Gatan K2相机
能谱：全对称固定式Super-X能谱（能量分辨率：136eV (Mn-Kα)）
物镜极靴间距：5.4mm（满足三维重构杆及各种原位杆的大转动角度±70°）
二、应用领域
聚光镜（STEM）和物镜（TEM）球差双校正器，可实现STEM和TEM两种模式下的超高分辨原子成像。四探头超级能谱仪（Super-X），可实现原子级成分分析；先进的STEM探头系统支持DPC/iDPC成像系统，可实现轻、重元素在同一幅STEM图像中清晰成像，并支持在极低束流下对电子束敏感材料进行低损伤高衬度成像。另外，分析型三维重构样品杆和重构软件，提供原子尺度下三维TEM/STEM/EDS分析。广泛应用于孔材料化学、单原子催化、二维材料、有机高分子纤维等样品的表征和结构分析。
三、温馨提示
1、样品要求：样品无磁性；厚度在50纳米以下；样品要预先处理表面污染。
2、并非所有样品都适合球差电镜并获得理想的数据结果，建议先在普通透射电镜上筛选检查样品，再与实验老师探讨可行性。
3、目前先开放高分辨和原子像拍摄功能（有其他功能需求的用户可联系实验老师讨论样品和实验方案）。
4、送样请至少提前一周预约，并说明材料类型、晶体结构及预计结果等。
预约请登录：http://facility.whu.edu.cn
地点：武汉大学尖端科技楼101H
联系人：薛老师 15801273962（微信同号）
