透射电子显微镜系统

仪器名称（中文）：透射电子显微镜系统

仪器名称（英文）：Transmission electron microscope system

型号：Tecnai G2 F20S-TWIN + AZtec X-Max 80T

厂家：TEM:FEI

             EDS:OXFORD

购置年份：2014-04-16

性能指标：点分辨率0.24nm、

                 线分辨率0.12nm、

                 HRSTEM分辨率0.2nm

                 能谱分辨率125ev

原理及应用：透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透通过把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序数、电子密度、厚度等相关。成像方式与光学显微镜相似，只是以电子代替光子，电磁透镜代替玻璃透镜，放大后的电子像在荧光屏/CCD上显示出来。

透射电镜广泛应用于地球科学、材料、生物、环境等领域。常见应用有以下几个：

（1）       TEM明/暗场像(BF/DF)，用于对样品进行一般形貌观察；

（2）       选区电子衍射(SAED),用于对样品进行物相分析；

（3）       高分辨像(HRTEM)，观察晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影；

（4）       高角度环暗场像(HAADF),原子序数衬度像；

（5）       TEM+EDS,对样品微区的化学成分进行分析；

（6）       STEM+EDS,对样品微区的化学成分进行分析、对样品中的元素分布进行分析。

分析测试标准及联系方式：https://lamd.nju.edu.cn/fxcssfbz/list.htm