[8] 周华民,周晓伟,张云,余文劼,李茂源,邓天正雄,黄志高. 一种光学制件均匀性干涉检测方法. 申请号:201911028089.1 申请人:华中科技大学 受理日:2019.10.28 授权日:2020.12.29
[6] 周华民、谭鹏辉、张云、黄天仑、王云明、黄志高、张腾方、熊若愚. 一种用于锂离子电池极片的涂布干燥方法和装置. 申请号:201910534083.5 申请人:华中科技大学 受理日:2019.6.20 授权日:2020.9.18