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一种基于光电传感阵列测量折射率过程中数据处理方法
Release time:2021-04-12 Hits:
Affilication of Author(s):光学与电子信息学院
School Sign:华中科技大学
Patent Applicant:华中科技大学
Disigner of the Invention:Wei Li,Kecheng Yang,Xia Min,罗运,郭文平
Type of Patent:发明专利
Authorization number:2018108499726
Number of Inventors:5
Application Date:2018-07-28
Authorization Date:2020-05-26
First Author:郭文平
Pre One:提高光电传感阵列测量折射率过程中数据处理精度的方法
Next One:一种空间编码光场对曲面玻璃表面缺陷的检测方法