Patents
一种大量程范围的折射率测量装置及方法
Release time:2021-04-12 Hits:
Affilication of Author(s):光学与电子信息学院
School Sign:华中科技大学
Patent Applicant:华中科技大学
Disigner of the Invention:阮丛喆,LIU HAO,郭文军,Wei Li,Xia Min,叶骏伟,Kecheng Yang
Type of Patent:发明专利
Authorization number:201310375467X
Number of Inventors:7
Application Date:2013-08-26
Authorization Date:2016-05-25
First Author:Kecheng Yang
Pre One:一种快速定标模块及应用
Next One:一种用于测量液相气体折射率的测量仪及方法