Wei Li

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无标记光学信息检测

通过光电检测方法获取目标颗粒物数目,尺度,形状,表面特性及位置信息等。基于静态光散射、动态光散射原理等无标记光学检测原理,研发微小颗粒物粒度分析仪,研究表征颗粒物形貌的逆向散射算法,动态光散射粒度分析仪研发。

研究方向-逆向散射.png动态光散射.png