光学投影式三维形貌测量系统（产品）
来源： 发布日期：2017-06-01
Ø 成果简介：光学投影式三维形貌测量方法是一种非接触、高精度、快速获取被测物三维形貌的方法。基于此方法开发研制而成的测量系统可在1分钟内获取测量区域10cm2-400cm2内被测物三维形貌，测量分辨率可达到200μm。该系统硬件部分包括小型化条纹投射装置、高分辨率数字CCD相机和控制电路，自行编写的软件拥有仪器控制、图像采集、分析和可视化等功能并嵌套相位解包裹专用算法。便携式设计使该套系统可方便应用于车间、厂矿等各种测量环境。
Ø 项目来源：自行开发
Ø 技术领域：测量测试
Ø 应用范围：加工制造业中的逆向工程、产品检测，生物医学中的器官测量与建模和服装制造业中的虚拟试衣等。
Ø 现状特点：该系统的测量速度及精度处于国内较为先进的水平且造价低廉，科研和教学领域均可使用。
Ø 技术创新：该系统采用基于时域的相位解包裹算法作为数据处理的核心算法，可以大大降低噪声对结果的影响，提高测量的精度。
Ø 所在阶段：样机
Ø 成果知识产权：独立知识产权
Ø 成果转让方式：合作开发或技术服务
Ø 市场状况及效益分析：该套系统造价比国外同类试验设备造价低5-10倍左右，在军用和民用领域均具有较大的潜在经济效益和应用空间。
